2022 IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Micro & Nano-Systems (DTS) была проведена с 7 по 10 июня 2022 г. в г. Каир, Египет. Россию с тремя докладами представляла доцент кафедры ИСиРТ ИСОиП (филиала) ДГТУ Бугакова А.В.:
- Dynamic errors of broadband Chebyshev bandpass filters switched on at the ADC input in automatic control systems / L. Samoylov; D. Denisenko; N. Prokopenko; A. Bugakova,
- Circuitry Approaches for Reducing of the Zero Level in Three-Stage CJFET Operational Amplifier / N. Prokopenko; A. Titov; A. Bugakova, V. Chumakov,
- Overview of the Nonlinear Dynamic's Basic Equations of Op-Amps in Large Signal Mode / N. Prokopenko, V. Chumakov, A. Bugakova; A. Gaiduk.
Данные доклады посвящены уменьшению погрешности систем автоматического управления с АЦП преобразованиями, а также повышению быстродействия операционных усилителей.
Международная конференция IEEE по проектированию и тестированию интегрированных микро- и наносистем представляет собой научно-технологическое мероприятие, посвященное интегрированным электронным системам, достигающим эпохи наноразмеров. Интересы конференции охватывают все аспекты от проектирования до испытаний микро- и наносистем.
IEEE DTS — важная встреча, на которой известные исследователи из университетов и компаний представили последние инновации в области микро- и наноэлектроники.
Конференция IEEE DTS’22 была организована Международным университетом Жермена (GIU), Египет.
По итогам конференции статьи будут отправлены для индексации в реферативные базы данных IEEE Xplore и Scopus.
